芯片測試的功效有一個關鍵的功效便是出示高低溫試驗的界面測試。然這也跟同階段的測試的總體技術實力相關，這一時期廣泛對檢測的溫控水平規定不高換句話說不用非常精確的溫控。芯片測試在近10多年的發展趨勢早已較為完善，可是伴隨著電子器件技術性的發展趨勢及自身精確度的提升，傳統式的芯片測試早已遠遠地不可以符合要求。由于沒有集成芯片具體溫度的意見反饋，因此難以獲知在測集成芯片的具體溫度是否做到了設置的溫度范圍。因而集成芯片具體溫度的意見反饋是很重要的一點，也是芯片測試溫控水平發展趨勢的關鍵標示。芯片測試機器設備歷經集成芯片、半導體材料、電子器件制造行業的飛速發展。