4568寸片測(cè)試的基本要求和工作原理
所屬類別：2020-08-18 閱讀：2247次
隨著工程師對(duì)于4568寸片測(cè)試的不斷突破，我們已經(jīng)確定了測(cè)試的基本要求和工作原理。下面我們就來詳細(xì)看一下吧。首先是，關(guān)于探針的平面輸入情況測(cè)試，探針的平面?zhèn)鬏斁�必須要和壓點(diǎn)接觸，但是并不需要一定接觸導(dǎo)線，導(dǎo)線和壓點(diǎn)是兩個(gè)不同的接觸點(diǎn)。如果后期要進(jìn)行微帶線的測(cè)試，那么就需要進(jìn)行共面探針的設(shè)計(jì)了。這個(gè)接觸的點(diǎn)是金屬球，并且要讓金屬球可以反復(fù)測(cè)試，金屬球的重量可以設(shè)計(jì)得稍微重一點(diǎn)，才重復(fù)測(cè)試中不會(huì)產(chǎn)生很大的摩擦。
關(guān)于信號(hào)壓點(diǎn)的接觸，為了讓壓點(diǎn)可以接觸，必須要讓探針進(jìn)一步傾斜。在4568寸片測(cè)試中，我們將其稱之為平面化探針。
探針需要重復(fù)性接觸，但是聯(lián)軸器不能重復(fù)性接觸。探針的兩端可以進(jìn)行反復(fù)磨平，這是一個(gè)專業(yè)的高度校準(zhǔn)模式。通過反復(fù)性的接觸，探針的準(zhǔn)確性進(jìn)一步加強(qiáng)了，探針的損耗越多，其實(shí)反射只會(huì)越來越多。最終這之間產(chǎn)生的誤差會(huì)越來越小。
最后，在測(cè)試中，大家對(duì)于平面的標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試會(huì)相對(duì)容易一點(diǎn)。但是對(duì)于不規(guī)則的幾何形狀的測(cè)試會(huì)比較難一些。這個(gè)時(shí)候我們可以采用模型參考數(shù)據(jù)測(cè)試方法。也就是打造一個(gè)相關(guān)的數(shù)據(jù)模型，然后通過這個(gè)數(shù)據(jù)模型來改變幾何尺寸，慢慢和這個(gè)不規(guī)則的幾何圖形吻合即可。
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