陰極保護(hù)測(cè)試主要依靠環(huán)氧針頭，這可能有一定的局限性

      目前，我國(guó)許多地區(qū)陰極保護(hù)測(cè)試常用的工具是返氧針頭。這種針頭實(shí)際上是由返氧樹(shù)脂制成的，針頭很多，針頭之間的距離很小。也正是由于密封性和完整性的巨大差異，導(dǎo)致信號(hào)測(cè)試不完整。CP測(cè)試通常不需要高速測(cè)試。另外，由于探頭與焊盤(pán)的接觸會(huì)產(chǎn)生一定的影響，所以在電氣性能上可能會(huì)有一定的偏差。操作人員在工作中，要注意防止漏電，如果有比較大的接觸電阻，那么就需要考慮另一種大芯片的測(cè)試方法。

      CP測(cè)試需要考慮邊際失效，尋找優(yōu)解

      芯片的功耗也是一個(gè)需要考慮的因素，因?yàn)樾酒瑴y(cè)試與主控芯片相比只是一個(gè)一般的功耗。由于探頭的局限性，在生產(chǎn)過(guò)程中可能會(huì)出現(xiàn)一些異常情況。CP測(cè)試會(huì)導(dǎo)致芯片測(cè)試中的一些不穩(wěn)定因素，稱(chēng)為邊緣失效。這種量產(chǎn)測(cè)試效率相對(duì)較低，即使在CP過(guò)程中有一定的解決方案，也需要找到合適的方法，當(dāng)然尋找的過(guò)程是一個(gè)長(zhǎng)期的過(guò)程，經(jīng)過(guò)技術(shù)的研究才可以找到合適方案。