哪些因素影響wafertest測試設備的輸出結果
所屬類別：2022-06-09 閱讀：851次
目前市面上wafertest測試設備主要分為兩種，一種是提供所需的靜態影像，一般以波點位的圖像為主，另外一種是與其他的第三方設備或者影像系統相連接，形成被檢測設備的動態定位和檢測圖像或影像，那么哪些因素影響它的輸出結果呢？
1、多次掃描成像
wafertest測試是從影像資料上由計算機系統或者人工輔助判斷工業設備是否出現了部分損壞，它們會直接決定檢測的結果，現在市面上的一些掃描檢測設備一般是機器與人工輔助相結合，這樣可以****限度的保障準確率，也極大的節約了人工的成本，提高了檢測的效率，適合各種高精密設備和批量設備檢測。
2、設備是否校準
wafertest測試設備雖然作為一種高科技儀器，但長期使用之后仍需要對其進行校準，它具有自我校準的功能，一般在使用過程中可以動態的自我校準，然而使用一段時間后仍需要人工進行調整和干擾。以目前的市場情況來看，絕大多數同類設備均是如此，鑒于它特殊的工作模式，預計未來測試設備升級之后仍然不能完全實現智能運行。
所以wafertest測試設備并不是一種完全自動化的設備儀器，與第三方的軟件或其他設備相結合之后更需要定期校準其精度，這也是使其長期保持穩定工作的重要環節之一。建議校準前與生產廠家售后團隊進行深度咨詢，必要時派原廠售后人員予以支持，切勿私自開機校驗。
本公司主營項目：芯片測試,圓片測試,晶圓測試,CP測試,4568寸片測試,wafertest測試。
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